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當前位置:首頁 > 技術文章
  • 2023

    8-14

    SAR測試是什么?

    SAR測試的背景:隨著信息技術的飛速發(fā)展,第五代移動通信技術(5G)正在以高速率(eMBB)、極大的容量(mMTC)、極低的延時(uRLLC)帶領公眾走進無線通信的“超音速”時代,在江湖中留下“4G改變生活,5G改變社會”的傳說……與此同時...

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  • 2023

    8-11

    提升產品可靠性--振動測試

    產品在設計研發(fā)、生產、運輸、安裝及使用的過程中都會遭受到各種振動環(huán)境的影響,使得產品造成不同程度的損壞。常見產品因振動產生的失效現(xiàn)象:1.結構損壞,加劇構件的疲勞和磨損,縮短機器使用壽命,如結構變形、產品裂紋或斷裂;2.產品功能失效或性能超...

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  • 2023

    8-10

    從雙束電鏡(FIB)探秘微觀世界

    在半導體技術步入納米時代之后,納米尺度制造業(yè)得到了飛速發(fā)展,其中納米加工是納米制造業(yè)中最核心的組成部分,納米加工中最有代表性的手段是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束技術(FIB)采用高強度聚焦離子束納米加工材料,并結合掃描電鏡(SEM...

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  • 2023

    8-9

    AI時代來臨,對于半導體行業(yè)帶來怎樣的變化與趨勢?

    為了支持半導體制造商的自動化需求,先進的電子顯微鏡正在集成人工智能功能,以提供更快的數(shù)據生成時間并提高人力和工具資源的生產效率。在過去五年中,半導體行業(yè)對部署人工智能(AI)和機器學習(ML)應用程序的興趣迅速增長。借助可生成PB(千萬億字...

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  • 2023

    8-8

    為高電壓設備“聽診把脈” 構筑電力安全“防火墻”

    隨著電力行業(yè)的迅速發(fā)展,高電壓設備應用為人們的生產生活帶來了極大便利的同時,相關電氣設備及運輸線路長時間在高壓和外部環(huán)境因素的作用下出現(xiàn)絕緣劣化現(xiàn)象,造成多起電力安全事故。為及時發(fā)現(xiàn)高電壓部件絕緣劣化,提前排除電力安全隱患,廣電計量可靠性與...

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  • 2023

    7-26

    電磁環(huán)境檢測揭秘無形中的幕后守護者

    在當今數(shù)字化和科技發(fā)展的時代,我們身處于一個充滿電磁波的環(huán)境中。從手機、電視、微波爐到無線網絡,電磁輻射無處不在。雖然這些電子設備給我們帶來了便利與高效,但同時也引發(fā)了對電磁輻射對人體健康影響的擔憂。為了確保公眾的安全和提供更好的生活質量,...

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